精密机械加工尘埃粒子计数器使用背景
随着精密机械加工行业向微型化、高精密化方向快速发展，加工件的精度要求已从毫米级降至微米甚至纳米级，而生产环境中的微小尘埃粒子（如直径 0.5μm、5μm 的颗粒物）成为影响产品质量与加工设备寿命的关键隐患，催生了对精准尘埃监测工具的迫切需求。传统精密加工车间的尘埃监测方式存在明显短板：早期依赖人工目视检查或试纸采样，不仅检测效率低（单次检测需数小时），且无法量化粒子浓度，仅能判断 “肉眼可见污染”，难以捕捉微小粒子对高精度加工的影响 —— 例如，在半导体芯片封装模具加工中，直径仅 1μm 的尘埃附着在模具表面，便可能导致封装尺寸偏差，最终引发芯片性能故障；部分车间曾采用固定点位的简易监测设备，但这类设备覆盖范围有限，无法实时追踪加工区域（如数控机床周边、洁净工作台）的动态尘埃变化，易出现 “监测盲区”，导致突发污染未被及时发现。
硬件设备
OSEN-2510L型0.1um在线激光尘埃粒子计数器
OSEN-2510L型0.1um激光尘埃粒子计数器，是我司自主研发的全新一代产品。计数器以光散射原理为理论，通过光电传感技术实现对尘埃粒子粒径检测及粒子数量的计数。相比于普通款的大流量粒子计数器，此款仪器检测粒径更小，能最小检测0.1um的粒子数，适用于十级及一级的超净环境;适用于电子、半导体、液晶面板、微纳加工、航空航天、精密加工、新型材料、科研院所等超净场景。
技术参数
粒径范围：0.1um-10.0um
标准粒径通道：0.1um,0.2um,03.0.5um
0.1um粒径档计数效率：50±20%
浓度示值误差：0.5μms±20%FS
最大采样浓度：500000PC/CFM，浓度超限保护，并提示仪器自净
重复误差：5%F.S
自净时间：s10min
采样流量：28.3L±5%，实时监控，超限报警
采样周期：1-9999s可设置
连续工作：支持24h不间断稳定工作
激光光源：长寿命日本进口半导体激光二极管
真空：内部真空源，寿命{>}20000小时
显示：4.3英寸触摸屏
电源：DC24V/1A
通讯方式：RS485 @ModbusRTU/ 以太网 @ModbusTCP/无线通讯@LoRa
校准规范：JF1190-2008,GB/T 25915.1-2021
外壳：304 不锈钢
尺寸：宽19.2*深21.2°高15.2cm
重量：4kg
工作环境温度：0-40℃温度10%-90%无凝结
存储环境：温度-10-50℃温度0-90%无凝结